Built-in Self-test (BIST) and Built-in Self-calibration (BISC) for Σ-Δ Analog-to-Digital Converter

소개

Built-in Self-test (BIST) and Built-in Self-calibration (BISC) for Σ-Δ Analog-to-Digital Converter 에 대한 기술

목차

1. 연구 진행 내용
ⅰ. 배경이론
ⅱ. 현재 진행상황
2. 연구 진행 계획
3. 참고문헌

본문내용

A/D Converter 는 기본적으로 입력단을 통해 받은 신호를 비교기(comparator)를 이용하여 단계(level)를 나누고 각 단계에 따라 양자화(quantization)하여 digital signal을 만들어 내는 과정을 거친다.
그 성능과 형식에 따라서 Flash ADC, Counting ADC, SA ADC, Pipeline ADC, Σ-Δ ADC 등으로 나뉜다.
그중에서 가장 쓰임이 많은 것이 Flash ADC와 Pipeline ADC, 그리고 sigma-delta (Σ-Δ ) ADC 이다.

Flash ADC는 많은 수의 비교기(comparator)와 큰 면적이 필요하지만 고속의 변환(converting)이 가능하다. Pipeline ADC는 ADC를 여러 단으로 구성하는 pipeline 구조를 사용하여 converting delay를 최소화 하는 방식을 사용하기 때문에 효율적인 A/D converting이 가능하다. Σ-Δ A/D converter는 소자의 mismatch가 가장 적어 A/D converter중 가장 높은 10-bit 이상의 해상도를 얻을 수 있기 때문에 높은 해상도가 요구되는 음향기기 등에 널리 사용되는 방식이다.
ADC의 성능은 해상도(Effective resolution), 대역폭(Bandwidth), 선형성(Linearity) 등을 통하여 측정할 수 있다.

참고자료

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· [3] Alan V. Oppenheim and Alan S. Willsky and S. Hamid Nawab "Signals & Systems" second edition. Prentice Hall
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