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[A+결과보고서] 설계실습 2. Op Amp의 특성측정 방법 및 Integrator 설계

"[A+결과보고서] 설계실습 2. Op Amp의 특성측정 방법 및 Integrator 설계"에 대한 내용입니다.
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최초등록일 2025.01.31 최종저작일 2024.03
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[A+결과보고서] 설계실습 2. Op Amp의 특성측정 방법 및 Integrator 설계
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    소개

    "[A+결과보고서] 설계실습 2. Op Amp의 특성측정 방법 및 Integrator 설계"에 대한 내용입니다.

    목차

    1. 서론

    2. 실험결과

    3. 설계실습 내용 및 분석
    3.1 Offset Voltage 측정 (DC power supply의 전압을 ±15V로 설정한다. )
    3.2 Integrator의 동작 (DC power supply의 전압을 ±15 V로 설정한다. )

    4. 결론

    본문내용

    요약
    Amplifier(증폭장치)는 입력된 신호의 출력을 키워서 내보내는 장치들을 의미하며, 출력이나 통신에 관련된 모든 전자/전기 장비에는 들어있다고 봐도 무관할 정도로 자주 사용된다. 이번 실습에서는 Op Amp의 특성을 알아보고 Integrator를 설계해 보았다.
    4.1 실험에서는 Op Amp의 특성인 offset voltage와 slew rate를 알아보기 위한 실험을 진행하였다. Open loop gain이 매우 크기 때문에 offset voltage의 출력 값도 크게 측정이 되야 하지만 saturation으로 인해 ±15V를 넘지 않음을 확인하였고 inverting 단자와 non-inverting 단자를 모두 접지하여 offset voltage를 직접 측정해보았다. Offset nulling을 통해 offset voltage가 감소함을 확인하였고 voltage follower 회로를 설계하고 주파수를 높여가며 출력파형의 왜곡이 시작되는 시점을 찾아 slew rate를 계산하고 datasheet의 값과 비교하였다.
    4.2 실험에서는 Integrator의 동작을 알아보기 위한 실험들을 진행하였다. Miller integrator 회로를 설계하고 스위치가 끊어진 5초 후의 capacitor의 출력전압을 DMM을 통해 측정하고 이를 이용해 offset voltage를 구해보았다. Rf가 추가된 적분기를 설계하여 Rf가 클 때, 적당할 때, 작을 때의 출력파형을 PSPICE의 파형과 비교해보았다. Capacitor 출력전압의 노이즈로 인해 정확한 측정을 할 수 없었고 그로 인해 오차율도 높게 나타났다. 또한 회로에 KCL을 적용하여 일차 미분방정식을 만들고 이를 해석하여 출력전압의 해를 구해보았고 실제 실험 측정 결과와 비교하였다.

    1.서론
    Op Amp의 특성과 Integrator의 특성에 대해 자세히 알 수 있는 실험이었다.

    참고자료

    · Microelectronic Circuits (8/E), Adel S. Sedra , Kenneth C. Smith, 2장
    · https://www.ti.com/lit/ds/symlink/lm741.pdf LM741 datasheet
  • AI와 토픽 톺아보기

    • 1. Op Amp의 Offset Voltage 특성
      Op Amp의 Offset Voltage는 실제 회로 설계에서 매우 중요한 파라미터입니다. 이상적인 Op Amp는 입력이 0일 때 출력도 0이어야 하지만, 실제 소자는 내부 불균형으로 인해 수 mV에서 수십 mV의 오프셋 전압이 발생합니다. 이는 DC 증폭 회로나 정밀 측정 회로에서 심각한 오류를 야기할 수 있습니다. 온도 변화에 따른 오프셋 드리프도 고려해야 하며, 이를 보정하기 위해 외부 저항을 이용한 오프셋 조정 회로가 필요합니다. 저오프셋 Op Amp 선택이나 초퍼 안정화 기술 등으로 이 문제를 완화할 수 있으며, 정밀 아날로그 회로 설계 시 반드시 고려해야 할 특성입니다.
    • 2. Op Amp의 Slew Rate 측정
      Slew Rate는 Op Amp의 출력이 변할 수 있는 최대 속도를 나타내며, 고속 신호 처리에서 중요한 성능 지표입니다. 일반적으로 V/μs 단위로 표현되며, 측정 시 큰 신호 스텝 입력에 대한 출력의 상승 시간을 관찰합니다. Slew Rate 제한은 내부 보상 커패시터와 바이어스 전류에 의해 결정되며, 고속 응용에서는 높은 Slew Rate를 가진 Op Amp 선택이 필수적입니다. 측정 시 충분한 신호 진폭과 적절한 부하 조건을 유지해야 정확한 값을 얻을 수 있으며, 이는 오디오, RF 및 고속 데이터 변환 회로 설계에서 필수적인 검증 항목입니다.
    • 3. Miller Integrator 회로 설계 및 동작
      Miller Integrator는 Op Amp의 피드백 경로에 커패시터를 배치한 기본적인 적분 회로로, 아날로그 신호 처리의 핵심 구성 요소입니다. 입력 저항과 피드백 커패시터의 곱으로 시간 상수가 결정되어 설계가 직관적이고 유연합니다. 그러나 실제 구현 시 Op Amp의 유한한 이득, 오프셋 전압, 입력 바이어스 전류 등으로 인해 DC 드리프 문제가 발생합니다. 이를 해결하기 위해 피드백 경로에 병렬 저항을 추가하는 누설 저항 기법이 널리 사용됩니다. 정확한 적분 동작을 위해서는 고이득, 저오프셋의 Op Amp 선택과 신중한 회로 설계가 필요합니다.
    • 4. Integrator의 이론적 분석 및 검증
      Integrator의 이론적 분석은 라플라스 변환과 주파수 응답 특성을 통해 수행됩니다. 이상적인 적분기는 -20dB/decade의 일정한 감쇠와 -90도의 위상 지연을 보이며, 전달함수는 1/(sRC) 형태입니다. 실제 회로의 검증은 스텝 입력에 대한 선형 출력 증가, 정현파 입력에 대한 위상 지연 측정, 그리고 주파수 응답 분석을 통해 수행됩니다. 누설 저항의 추가로 인한 저주파 차단 특성도 분석해야 하며, 이는 적분기의 동작 범위를 제한합니다. 실험적 검증을 통해 이론과 실제의 편차를 파악하고 회로 파라미터를 최적화하는 것이 정밀한 아날로그 시스템 구현의 필수 과정입니다.
  • 자료후기

      Ai 리뷰
      Op Amp의 offset voltage와 slew rate 측정 실험, Integrator 회로 설계 및 동작 분석 실험을 통해 Op Amp와 Integrator의 특성을 이해하고 실험 결과와 이론 값을 비교 분석하였다.
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