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SEM 보고서2025.01.271. 주사전자현미경(SEM) 주사전자현미경(SEM)은 진공에 놓인 시료의 표면을 1~100 nm의 전자선으로 관측하는 현미경입니다. 분석 특징으로는 표면 형상 및 구조 관찰, SE와 BSE 영상, EDS 원소 분석 등이 있으며, 공간분해능은 약 1 nm, EDS 원소 분석의 검출 범위는 C(Be)-U입니다. SEM의 원리는 집속된 전자빔을 시료표면에 주사하면서 전자빔과 시료와의 상호작용에 의해 발생되는 이차전자 또는 후방산란전자를 이용하여 시료의 표면을 관찰하는 것입니다. SEM의 주요 구성요소로는 전자총, 자기렌즈, 검출기 등이 ...2025.01.27
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SEM을 이용한 polymer blend film topology2025.05.151. SEM (주사전자현미경) SEM은 주사전자현미경으로, 시료 표면의 형태와 구조를 관찰할 수 있는 장비입니다. 이 실험에서는 SEM을 이용하여 polymer blend film의 표면 형태와 구조를 분석하였습니다. 2. Polymer blend film Polymer blend film은 두 가지 이상의 고분자를 혼합하여 만든 박막 구조입니다. 이 실험에서는 polymer blend film의 상 분리 현상과 표면 형태를 관찰하였습니다. 3. 상 분리 (Phase separation) Polymer blend film에서는 서로...2025.05.15
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유기소재실험2_SEM2025.05.151. SEM(주사전자현미경) 주사전자현미경(SEM)은 시료 표면을 전자선으로 주사하여 입체구조를 직접 관찰할 수 있는 전자현미경입니다. 시료 내의 원소에서 발생하는 특성 X선을 분석하는 X선 마이크로 애널나이저와 병용하여 시료 내의 특정 원소의 검출이나 분포를 해석하는 데 널리 사용됩니다. SEM은 주로 시료 표면의 정보를 얻을 수 있고 시료의 두께, 크기 및 준비에 크게 제한을 받지 않습니다. 또한 광학현미경에 비해 집점심도가 2배 이상 깊고 광범위하게 집점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는 것이 가능합니다. 2. SEM의 원리...2025.05.15
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SAP사의 전략적 기업 경영 SEM2025.05.141. SAP 사 SAP 사는 1972년 네 명의 소프트웨어 엔지니어에 의해 창업되었다. SAP는 System, Application and Project의 약자이다. 초창기에는 IBM의 시스템 개발 프로젝트를 하청 받던 업체였으나, IBM이 프로젝트를 다른 부문으로 이관하면서 독자적인 소프트웨어 개발 벤처기업으로 성장하게 되었다. 이후 IBM의 고객인 영국기업 ICI의 시스템 개발에도 참여하게 되었다. 2. SAP SEM(Strategic Enterprise Management) SAP SEM은 전략경영 지원 도구(tool)이다. ...2025.05.14
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SEM(주사 전자 현미경)의 원리 및 조작 방법2025.01.221. SEM의 동작원리 SEM은 가느다란 전자 빔을 시료 표면에 주사하여 시료표면에서 발생하는 2차 전자를 이용하여 입체적인 표면상을 관찰하는 현미경입니다. SEM은 광학현미경(OM)과 달리 전자빔(파장: 0.6 nm)을 사용하여 더 높은 분해능(3~20 nm)과 배율(10~30만배)을 가지고 있습니다. 2. SEM 조작방법 SEM 조작 방법은 다음과 같습니다. 1) 시료 준비: 전도성 물질은 바로 측정 가능하지만 비전도성 물질은 코팅 과정이 필요합니다. 2) 진공 유지: SEM 내부에 진공을 유지하여 필라멘트 연소, 가스 분자와의...2025.01.22
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고분자실험 SEM, TEM 예비보고서2025.05.091. 전자 현미경 전자 현미경은 가시광선을 사용하지 않고 0.01nm 정도의 파장을 가진 전자빔을 사용하며, 광학 현미경에서의 렌즈 역할을 전기장이나 자기장이 대신한다. 전자빔의 사용으로 인해 시료에 영향을 줄 수 있으며, 고진공 상태에서 분석해야 한다는 제약이 있다. 전자 현미경은 크게 SEM(주사 전자 현미경)과 TEM(투과 전자 현미경)으로 분류할 수 있다. 2. SEM(주사 전자 현미경) SEM은 이미지가 샘플 표면의 특정 위치에서 전자빔을 스캔하여 형성되는 분석 방법이다. SEM은 표면에서 흩어진 전자들을 수집하며 분석을 ...2025.05.09
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기기분석실험 4주차 FE-SEM 결과레포트2025.01.291. FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscopy) FE-SEM은 Field Emission Scanning Electron Microscopy의 약자로, 다양한 고분자 재료로 제작된 sample에 전자를 주사하여 표면에 있는 정보를 detecting하여 sample의 표면정보를 얻는 장비이다. 가속화된 전자총을 사용하여 기존의 SEM보다 더 높은 해상도로 관측 가능하며, DLS 디텍터와 같이 추가적인 악세서리를 부착 가능하다. 2. FE-SEM 디텍터의 종류 Inlens 디텍터는 샘플...2025.01.29
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4주차 FE-SEM 분석 실험 예비레포트2025.01.291. FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscopy) FE-SEM은 Field Emission Scanning Electron Microscopy의 약자로, 다양한 고분자 재료로 제작된 sample에 전자를 주사하여 표면에 있는 정보를 detecting하여 sample의 표면정보를 얻는 장비이다. 가속화된 전자총을 사용하여 기존의 SEM보다 더 높은 해상도로 관측 가능하며, DLS 디텍터와 같이 추가적인 악세서리를 부착 가능하다. 2. Young's Modulus (영률) Young's ...2025.01.29
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[물리화학실험2] 실험4_결과레포트_SEM을 이용한 polymer blend film topology2025.05.151. SEM을 이용한 polymer blend film topology SEM을 이용하여 polymer blend film의 topology를 분석하였습니다. 실험에서는 poly(ethyl methacrylate)와 polystyrene의 blend film을 제작하고 SEM으로 관찰하였습니다. SEM 분석 결과, 두 고분자 간의 상분리 현상이 관찰되었으며, 각 고분자의 특성이 반영된 표면 형태를 확인할 수 있었습니다. 이를 통해 고분자 블렌드 필름의 미세구조와 상호작용을 이해할 수 있었습니다. 1. SEM을 이용한 polymer ...2025.05.15
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재료공학기초실험_SEM 주사전자현미경관찰(1)_전자현미경 원리 및 시편준비2025.05.081. 주사전자현미경(SEM)의 원리 및 구조 주사전자현미경(SEM)은 재료의 표면 형상분석 및 성분분석에 널리 사용되는 장비입니다. SEM은 전자총, 집속렌즈, 대물렌즈, 조리개, 전자 검출기 등으로 구성되어 있습니다. 전자총에서 발생한 전자빔이 시료에 주사되면 시료 표면에서 발생하는 2차 전자를 검출하여 화상을 구현합니다. SEM은 최대 수백만 배의 고배율 이미지를 얻을 수 있으며, 시편 준비가 간단하고 정성/정량 분석이 가능한 장점이 있습니다. 2. SEM의 전자총 및 전자빔 생성 SEM의 전자총은 전자를 만들어내고 가속시키는 ...2025.05.08
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