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RS-Latch 및 D-Latch 실험 결과보고서2025.11.161. RS-Latch RS-Latch는 NOR gate 또는 NAND gate를 사용하여 구성되는 기본적인 메모리 소자입니다. NOR gate로 구성된 RS-Latch는 R(Reset)과 S(Set) 입력에 따라 출력 Q와 Q'의 상태가 결정되며, NAND gate로 구성된 경우 입력 논리가 반전됩니다. Enable 신호를 추가하면 특정 시간에만 입력을 받아들일 수 있습니다. 실험에서 진리표와 타이밍 다이어그램을 통해 각 입력 조합에 따른 출력 변화를 관찰했습니다. 2. D-Latch D-Latch는 NOR gate, AND gat...2025.11.16
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Shift Registers 실험 결과보고서2025.11.161. Serial Input-Parallel Output (SIPO) Shift Register IC 7474를 사용하여 SIPO shift register 회로를 구성하고 동작을 관찰했다. 모든 플립플롭의 출력을 초기화한 후 스위치 제어를 통해 클록 신호 변화에 따른 출력 변화를 측정했다. CLK이 변할 때마다 입력된 D값이 L1에 나타나고 순차적으로 L2, L3, L4로 이동하는 시프팅 동작을 확인했다. 4비트의 순차적 입력 정보가 동시에 병렬로 출력되는 특성을 관찰하고 타이밍 다이어그램으로 표현했다. 2. Ring Counte...2025.11.16
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십진 계수기(BCD Counter) 실험 보고서2025.11.161. BCD(Binary-Coded-Decimal) 계수기 BCD 계수기는 이진 부호화 십진수 체계를 사용하는 디지털 계수 장치입니다. 본 실험에서는 JK 플립플롭과 NAND 게이트를 사용하여 십진 계수기를 구성하고, 클록 신호의 증가에 따른 출력 변화를 관찰했습니다. L1, L2, L3, L4 출력이 0부터 9까지 순환하며, 10주기마다 초기화되는 특성을 확인했습니다. 2. TTL IC 7490을 이용한 십진 계수기 설계 TTL IC 7490은 내부에 이진 계수기와 5진 계수기를 포함하고 있으며, 이 둘을 조합하면 10진 계수기가...2025.11.16
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이진 계수기 실험 결과보고서2025.11.161. Count-Up Ripple Counter 7476 dual JK FF을 이용하여 구성한 상향 이진 계수기. 모든 J, K 단자 및 preset 단자를 +5V에 연결하고 SW1을 CLK으로 사용하여 0부터 15까지 순차적으로 계수. 입력 클록의 하강 엣지마다 출력이 변화하며, 4비트 출력(L1, L2, L3, L4)으로 십진수 0~15를 표현. 직전 FF의 출력이 다음 FF의 클록으로 사용되어 시간 지연 발생. 2. Count-Down Ripple Counter 상향 계수기와 반대로 작동하는 하향 이진 계수기. 동일한 JK F...2025.11.16