1. Four-point probe resistivity measurement 이번 실험에서는 4-point probe를 사용하여 알루미늄과 실리콘의 비저항을 계산하고 온도에 따른 비저항의 변화를 확인하였습니다. 실험 결과 도체인 알루미늄의 비저항이 반도체인 실리콘보다 낮은 것을 확인할 수 있었으며, 온도가 증가할수록 알루미늄의 비저항이 증가하는 것을 관측할 수 있었습니다. 또한 시료의 크기, 두께와 비저항 사이의 관계, 보정계수(K)의 개념을 이해할 수 있었습니다. 1. Four-point probe resistivity meas...

1. 4 Point Probe 4 Point Probe는 반도체 및 박막 재료의 전기적 특성을 측정하는 장비입니다. 네 개의 프로브를 이용하여 시료의 표면에 접촉하여 전기 저항, 비저항, 전도도 등의 전기적 성질을 비파괴적으로 측정합니다. 특히 반도체 웨이퍼, 박막, 도전성 코팅 등의 품질 관리 및 연구에 널리 사용되며, 정확한 측정을 위해 프로브 간격과 접촉 압력이 중요합니다. 2. LCR Meter LCR Meter는 인덕턴스(L), 커패시턴스(C), 저항(R)을 측정하는 전자 측정 장비입니다. 다양한 주파수에서 전자 부품의 임...