"AFM 분석"의 검색결과 입니다.

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afm AFM 실험 보고서 스핀코팅 원자현미경 xps

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"AFM 분석" 검색결과 1-20 / 364건

고분해능 탄소나노튜브 AFM 탐침을 이용한 구조 분석 연구 (Structural Study Using Ultrahigh Resolution Cabon Nanotube AFM Probe Tips)

대한화학회 양성익

논문 | 4페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.07 | 수정일 2025.05.08

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AFM 분석 결과 레포트

? ID & NamePurpose용액을 spin coating 하는 방법을 습득하고, AFM을 이용하여 박막의 roughness를 측정한다.ExperimentHIL(정공 주입층)인 ... ℃의 온도로 용매를 건조시킨다. 또한, AFM 장비를 이용하여 ZnO 박막의 roughness를 여러 가지 다양한 이미지로 확인하여 본다.Result&Discussion그림 1

리포트 | 1페이지 | 1,000원 | 등록일 2021.02.15

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주파수 변화에 따른 AFM 기반의 펄스 전기화학 폴리싱 표면특성 분석 (AFM based Surface Verifications of Pulse Electrochemical Polishing for Various Frequency Conditions)

한국생산제조학회 김영빈, 김종태, 안동규, 박종락, 정상화, 박정우

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.07.01 | 수정일 2025.07.05

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[실험설계] 스핀코팅의 원리 및 AFM 분석

[실험설계]스핀코팅의 원리 및 AFM 분석[목차]1. 스핀코팅 (Spin coating)2. Surface profiler3. Atomic Force Microscope (AFM ... )1) 접촉식 (contact mode) AFM2) 비접촉식 (non-contact mode) AFM4. 실험 방법(1) 시료 제작(2) 측정 방법(3) 두께 측정(4) 표면 ... 한다. 이 때 사용하는 용매는 boiling point 가 낮아 증발이 잘 되는 물질은 사용을 피한다.3. Atomic Force Microscope (AFM)팁과 샘플 사이

리포트 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2024.10.27

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[고분자 화학] AFM을 이용한 ITO glass 분석

AFM을 이용한 ITO glass 구조분석Ⅰ. Abstract이 글은 최근에 LCD, PDP 등의 얇고 평평한 디스플레이에 들어있는 ITO glass를 원자간력현미경(Atomic ... , 원자간력현미경에 대한 이론, AFM을 이용한 ITO glass 실험 과정 및 분석 순으로 기술되어 있다.Ⅱ. Introduction1. ITO(Indium-Tin Oxide)한국 ... 한 표면 특성을 분석할 수 있는 탐침 기반의 분석 장비이다. AFM 분석의 상호 보완적인 분석기술로서의 GIXD는 결정성 필름 표면으로부터 직접 확인되지 않는 결정구조 및 배향

리포트 | 8페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.08.22

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SEM FTIR AFM 을 이용한 금나노 입자 분석 레포트

FTIR, SEM, AFM을 이용한 금나노입자 (AuNP) 관찰 및 분석Observation and Analysis of AuNPs by FTIR, SEM ... , AFMMaterials100nm 직경의 AuNP 수용액(저번 실험에서 제조한 것 사용)FTIR 분석장비SEM 현미경AFM 현미경Results저번 실험에서 만든 100nm 크기의 AuNP를 SEM ... 입자를 SEM, AFM, FTIR을 이용하여 관찰하고 분석하는 실험이었다. 각각의 분석방법인 SEM, AFM, FTIR은 각기 다른 특징과 이점을 갖는다. SEM은 일반적인 광학

리포트 | 4페이지 | 2,000원 | 등록일 2022.04.13 | 수정일 2022.05.20

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유한요소 해석을 이용한 초음파원자현미경 캔틸레버의 접촉 공진주파수 특성 분석 (Analysis of Contact Resonance Frequency Characteristics for Cantilever of Ultrasonic-AFM Using Finite Element Method)

한국생산제조학회 이주민, 한유하, 곽동열, 박익근

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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표면/원소/전기적특성/광학 분석 장비 (AFM, SEM, TEM, FT-IR, XPS/UPS, Raman, CV, PL, Impedance, UV, Reflectance, Transmittance)

Study & Explain Analysis & Measurement1. Surface Morphology: AFM, SEM, TEM1) Electron Microscopy ... electrons의 detect를 통해 이미지를 얻는 방법을 사용하고 있습니다.2) Scanning probe microscopy(AFM)반면 AFM은 Atomic force ... urface를 이미지화하는 방법을 사용하며 STM으로 불리기도 합니다. AFM의 중요한 특징은 lateral 이미지와 동시에 vertical resolution을 얻을 수 있다는 장점

리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2019.08.21

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박막 분석 장비의 원리와 종류 (SEM, 4-Point Probe, XRD, AFM, EFM)

XRD의 구성9제 2 절 XRD의 원리10제 3 절 XRD 분석의 종류11제 4 절 XRD 활용13제 Ⅳ 장 AFM(Atomic Force Microscope)제 1 절 AFM ... 의 측정원리14제 2 절 AFM cantilever의 탄성계수15제 3 절 Input force, Fz 결정16제 4 절 AFM cantilever의 가공력 파악, Fz와 Fy 결정 ... diagram for HXRDFig 14. Definition rotation axes for specimenFig 15. Schematic of TFDFig 16. AFM 3D

리포트 | 22페이지 | 2,500원 | 등록일 2015.01.08 | 수정일 2023.04.29

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AFM 이용한 표면분석

1.실험제목 : AFM (Atomic Force Microscopy)2.실험목적 : (1)AFM의 동작원리를 이해한다. (2)AFM 측정을 통하여 표면을 분석해보자.3.실험기구 ... , 장비, 재료 : (1)각종 물질이 증착 된 기판(Glass, ITO, Ni) (2) AFM 장비4.실험원리 : 표면 거칠기① Peak - to - valley Roughness ... 지만가 다른 단면을 보여주는 것이다.를 구하는 식을 표시하면 다음과 같다.는 거칠기의 RMS값이며, 신호처리시 전기적으로 구하기 쉬우며, 이 계산식은,를 구할때도 쓰이기도 한다.④ AFM

리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.12.24

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분광법(XPS, AES) 과 현미경 (SEM, TEM, STM, AFM)을 이용한 표면 분석 원리

, AFM)고체와 표면고체 표면의 정의일반적으로 표면이란 고체의 일부분으로 고체 본체의 평균 조성과는 성분이 다른 고체의 일부분이라고 생각한다. 표면은 몇 개의 원자의 깊이나 혹은 수 ... nm 정도를 침투한다.표면의 환경거의 대부분의 표면 분광학적 방법은 진공 상태의 환경을 필요로 한다. 표면분석에 있어서 자주 만나게 되는 문제는 산소, 습기 또는 이산화탄소 등 ... 으로부터 계산 할 수 있다.Eb = hv ? Ek ? w1.2) 정성분석XPS 스펙트럼은 시료의 원소 조성을 알아내는데 사용된다. 마그네슘이나 알루미늄 Kα선 광원을 이용하면 수소

리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2012.10.19

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고분자의 표면과 계면 과 분석기기(SEM,TEM,STM,AFM)

POLYMER SURFACES AND INTERFACESBY An Young MiIntroduce고분자 표면과 계면의 정의1표면과 계면의 열역학2표면장력과 접촉각3분석장비 ... 의 기울기 정도 (9) 렌즈의 영향과 백그라운드 라이트 효과접촉각에 영향을 주는 요소3. 표면장력과 접촉각4. 분석기기4.1 ESCA(XPA)x-ray photoelectron s ... pectroscopy 시료에 x선을 조사하면 흡수하여 방출된 전자의 결합에너지 측정 1) 시료의 구성성분 분석 2) 화학결합의 형태 인지MicroscopeElectron

리포트 | 28페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.03

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Surface characterization by AFM

1. 실험제목: Surface characterization by AFM2. 실험일자: 2015년 5월 28일 목요일3. 실험목적: 원자현미경의 종류 중 하나인 AFM의 특징 ... 과 원리를 이해하고, 이를바탕으로 시료의 표면 분석을 수행한다.4. 실험원리A. 현미경의 종류1) 광학현미경(LM, Light Microscope): 유리렌즈를 사용하며, 광원(빛 ... Microscope): AFM 팁이나 광섬유 끝을 변형 시킨 프로브를 사용하여 주사(Scanning)하는 현미경이다. 이때 프로브는 연구하려는 물체의 표면과 상호작용을 함으로써, 표면

리포트 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.01.18 | 수정일 2023.01.12

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[A+] 단국대 고분자공학실험및설계2 <코팅 방법 -Atomic Force Microscope (AFM)> 레포트

분석가능하다는 장점과 진공, 액상조건에서도 분석할 수 있는 장점이 있다. 이러한 장점 때문에 현재 SPM은 나노표면 분석용으로 보편적인 장비가 되고 있다. AFM, STM을 통칭 ... 1. 실험 목적- AFM으로 물질의 표면거칠기를 측정하고, 측정원리와 RMS 값이 나오는 계산에 대해서 이해할 수 있다.-코팅 방법 변화에 따른 Roughness 차이를 이해 ... 에 발명된 STM(Scanning Tunneling Microscope)의 원리로부터 탄생되었다. 현재 원자, 분자 수준의 분해능을 갖는 표면 계측 장비로서 나노 특성 분석에 널리

리포트 | 8페이지 | 6,000원 | 등록일 2024.09.16 | 수정일 2024.10.17

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SPM 현미경의 종류/원리/특징(STM,AFM

을 갖는 표면 계측 장비로서 나노 특성 분석에 널리 활용되고 있고, 다양한 환경에서 미소삼차원형상이나 여러가 지 물리량 분포를 관찰할 수 있는 특징이 있어 다양한 시료에 폭넓 ... 일체를 통칭하며, 그 물리량에 따라 AFM, FFM, SMM, SNOAM, MFM등으로 구분된다.II. SPM의 기본 원리(STM, AFM)ⅰ. STM(Scanning ... 재구성하여 표면의 구성을 관찰한다.(전류 구동방식, 높이 구동방식)ⅱ. AFM(Atomic Force Microscope) - SPM의 단점 보완(시편이 도체가 아니어도 됨)접촉

리포트 | 2페이지 | 1,500원 | 등록일 2020.12.16

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22년 상반기 LG전자 BS본부 Material R&D 직무 서류 합격 자소서

적으로 기술해주시기 바랍니다. 1000자"끊임없는 공정 개선으로 빛을 낸 마이크로LED"마이크로LED 모듈 개발 중 발생한 이슈를 팀원 및 유관부서와 협업으로 분석하고 해결하며 고성능 ... 고품질 마이크로LED 사이니지를 개발하고자 지원했습니다. 직무 역량 강화를 위해 한국나노기술원에서 팀원들과 두 달간 포토리소그래피, ICP-RIE, SEM, AFM 등의 공정/계측 ... 장비들로 끊임없는 공정 개선을 하며 40μm의 마이크로LED 제작과 레시피 최적화에 성공했습니다. 위 과정들로 디스플레이 소자/공정을 이해하고 계측장비로 불량 분석을 통한 이슈

자기소개서 | 3페이지 | 3,000원 | 등록일 2022.08.04

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반도체 공정에서의 AFM 활용

성이 떨어지게 된다. 따라서 각 공정마다 반도체의 표면을 분석하고 세정공정이 필수적이다.반도체 제조 과정에서 웨이퍼 세척, 이온 주입, 열처리 공정, 필름 증착, CMP(화학 ... 적 기계연마), 식각 과정으로 이루어 진다. 이러한 과정에서 반도체에 대한 물리적 분석과 화학적 분석이 필요하다. 물리적 분석에서 사용되는 분석기기는 다음과 같다.2. Analytic ... method in semiconductor process반도체 산업에서 패턴이 미세해지고 복잡해짐에 따라 미세구조를 정확하게 측정하고, 새로운 소재 개발에 있어서 결함 및 불량을 분석하는 것은 매우 중요하다.

리포트 | 4페이지 | 2,500원 | 등록일 2022.01.28

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22년 상반기 LG에너지솔루션 검사기술 직무 서류 합격 자소서 + 1차 면접 복기 자료

나노기술원에서 팀원들과 두 달간 XPS, FTIR, SEM-EDS, AFM, 프로브스테이션 등의 다양한 계측/검사장비들을 숙달하고 소자 제작 중 발생한 불량들을 분석 및 해결 ... 잔류물이란 예상치 못한 이슈로 전극의 전도도와 투명도가 저하됐습니다. 이슈 발생 후 즉각 전극 공정레시피 각각의 단계를 OM, AFM, 4-Point Probe로 사전/사후 분석 ... 유관부서와 협업으로 배터리 개발/양산 중 발생한 신규 불량들을 검출 및 분석하고, 끊임없이 검사기술을 개선 및 최적화하는 검사기술 직무에 매료됐습니다.직무 역량 강화를 위해 한국

자기소개서 | 5페이지 | 4,000원 | 등록일 2022.08.06

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숭실대학교 신소재공학실험2 다결정 박막 코팅 및 분석 예비보고서

1. 실험 제목다결정 박막 코팅 및 분석2. 배경 및 이론1. Polycrystal결정은 내부 구조를 이루고 있는 원자나 분자 등이 주기성을 가지고 규칙적 배열의 격자 형태 ... 이 두꺼워진다. 또한 기판 자체의 표면 에너지, 흡수 및 확산의 특성도 박막 형성에 영향을 준다.3. Atomic force microscope (AFM)AFM은 원자 현미경의 한 종류이 ... 며, 원자 힘 현미경 또는 원자력 간 현미경이라고 한다. 측정하고자 하는 시료와 AFM 내의 탐침 사이의 미세한 원자간 상호작용인 반데르발스 힘을 측정한다. 이는 분자 사이의 거리

리포트 | 4페이지 | 2,000원 | 등록일 2024.08.26

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숭실대 다결정 박막 코팅 및 분석 예비레포트

다결정 박막 코팅및 분석-예비보고서-숭실대학교 유기신소재파이버공학과과목명신소재공학실험2(나)조반조원지도교수담당조교학번제출일이름1. 실험 제목 : 다결정 박막 코팅 및 분석2 ... 들과 달리 연속적인 코팅이 불가능 하다는 단점이 있어 대량 생산 공정 기술로는 부족하다.3. Atomic Force Microscopy(AFM)원자힘현미경(atomic force ... microscopy, AFM)은 시료 표면의 3차원 형상을 측정하는 장비와 그 기술을 말하는 것이다. 나노 크기의 탐침이 끝에 달려있는 캔틸레버(cantilever)가 시료 표면을 훑

리포트 | 4페이지 | 2,000원 | 등록일 2022.10.05

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