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"AFM (원자간력현미경)" 검색결과 1-20 / 49건

  • 원자간력 현미경을 이용한 단일세포 조작 및 고효율 유전자 도입기술 (Atomic Force Microscopy(AFM) based Single Cell Manipulation and High Efficient Gene Delivery Technology)
    한국화학공학회 한성웅, Nakamura Chikashi, Miyake Jun, 김우식, 김종민, 장상목
    논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28
  • [고분자공학실험및설계] 전체 실험 레포트 - 4가지
    & Contact angleⅢ. 원자간력현미경 (AFM)Ⅵ. PL & PLQYⅠ. UV-vis & CVPurposeTFB에 대한 UV-vis와 CV 실험에 대한 각각의 Band-gap ... } ^{d} `+` sigma _{s} ^{p} `=39.7664`+`18.6337`=`58.4001Ⅲ. 원자간력현미경 (AFM)Purpose형성된 박막(Al,MoO _{3},PEDOT ... :PSS)에 대하여 AFM 비접촉모드을 통하여roughness 확인 및 비교Experiment- 원자간력현미경 (AFM, Atomic Force Microscope) ; 표면
    리포트 | 12페이지 | 2,500원 | 등록일 2021.12.21
  • [고분자 화학] AFM을 이용한 ITO glass 분석
    AFM을 이용한 ITO glass 구조분석Ⅰ. Abstract이 글은 최근에 LCD, PDP 등의 얇고 평평한 디스플레이에 들어있는 ITO glass를 원자간력현미경(Atomic ... , 원자간력현미경에 대한 이론, AFM을 이용한 ITO glass 실험 과정 및 분석 순으로 기술되어 있다.Ⅱ. Introduction1. ITO(Indium-Tin Oxide)한국 ... 은 탐침 부분을 확대한 것이다.?그림 5. AFM의 모식도? 및 tip-sample interaction.2.2 AFM의 장점과 단점그림 5에서 보는 바와 같이 원자간력현미경
    리포트 | 8페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.08.22
  • 전자현미경(TEM, SEM, AFM)에 대한 PPT
    한 전자빔은 다시 여러 개의 자기렌즈를 거쳐 최종적으로 형광판이나 CCD 검출기로 검출되어 모니터 화면에 출력된다 . Ref. 9) Ref. 10)AFM원자간력현미경은 특히 수용액 ... 내 측정이 가능하고 , 생체시료를 산채로 고감도 계측할 수 있다는 점이 전자간력현미경에는 없는 특징이다 . 원자간력현미경은 진공 내 , 대기 내 , 또는 용액 내 시료를 측정할 수 ... 할 수 있는 상을 얻는 현미경이다 . CONCEPT AFM - 개념 Ref. 11) 분자내에 작용하는 미소한 힘을 측정하는 목적에도 사용된다 .AFM - 구조 Ref. 12) A
    리포트 | 20페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.05.25 | 수정일 2023.09.15
  • A Study on the Parallel Patterning of Nickel Oxide thin Film for Liquid Crystal Display (A Study on the Parallel Patterning of Nickel Oxide thin Film for Liquid Crystal Display)
    한국기계기술학회 조명현, 김원배
    논문 | 4페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.08 | 수정일 2025.05.08
  • 나노화학 필기 정리
    는 표면 사이에 전압을 걸어주면 전자들이 파동형태로 이동, 전자가 파동성을 띠며 시료를 통과하는 현상은?☞ 터널링 현상05. 원자간력 현미경(AFM)의 두 가지 모드 중 접촉모드 ... 의 단점은?☞ 접촉모드 원자간력 현미경은 부드러운 시료에 손상을 줄 수 있고 비접촉모드 원자간력 현미경은 이미 지의 왜곡이 있을 수 있다.06. AFM의 비접촉모드는 원자간의 어떤 ... 는 브리태니커 백과사전에 들어있는 모든 내용을 하나의 핀 머리에 기록하는 방법, 나노기술 발전을 위한 초고배율 현미경 개발의 필요성, 원자를 재배열하여 나노구조를 만드는 것, 컴퓨
    시험자료 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2021.04.05
  • 원생동물관찰 (예비+결과)
    )과 같은 것이 있다. 주사 프로브 현미경의 종류에는 원자간력 현미경 (AFM), 주사 터널링 현미경 (STM), 주사 근접장 광학현미경 (SNOM)이 있다. 추가로, X선 현미경 ... 1. Subject: Structure and usage of Microscope & Protozoa observation2. Object: 현미경의 구조와 사용법을 익히고 이 ... 를 바탕으로 현미경을 이용하여 원생동물을 관찰한다.3. Introduction- 현미경의 구조그림 1. 현미경의 구조경통: 접안렌즈와 대물렌즈를 연결하는 원통이며 대물렌즈로 들어오
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2021.12.08
  • 재료분석학 Report-재료분석기기 및 분석원리
    Tunneling Microscope) 주사 터널링 현미경(2) AFM (Atomic Force Microscope) 원자간력(3) EFM (Electrostatic Force ... Spectroscopy) 오제이 전자 현미경3) STM / AFM / EFMSPM (Scanning Probe MicroScope) 주사 탐침 현미경(1) STM (Scanning ... 원소를 구분해 낼 수 있다.3) STM / AFM / EFMSPM (Scanning Probe MicroScope) 주사 탐침 현미경원자는 그 크기(0.1∼0.5nm)가 너무 작
    리포트 | 11페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.04.21 | 수정일 2020.04.23
  • 액상 레이저 기화법 사전보고서
    을 충분히 차단함으로써 시료 표면의 요철, 경우에 따라서는 원자상을 관찰할 수 있다. 또한 STM 이미지를 통해 전자의 파동성을 관찰할 수 있다.③ 원자간력현미경 (AFM ... 로 검출하여 판용수철편지량 요도를 계측한다. 원자간력현미경은 진공내, 대기내, 또는 용액내 시료를 측정할 수 있다. 원자간력현미경은 특히 수용액내 측정이 가능하고, 생체시료를 산체 ... 조에 따라 상의 대조를 얻어낼 수 있다.② 주사형 터널 현미경 (STM, Scanning Tunneling Microscope)선단이 예리한 심침(칩)을 시료 표면에 접근시켜(약
    리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2020.06.01
  • 신소재공학과 디스플레이 표면실험
    차원 혹은 3차원 영상을 얻을 수 있다.1-1)원자간력 현미경 (原子間力顯微鏡, Atomic Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning ... 디스플레이 표면실험목차이론 및 용어정리실험결과 및 방법고찰1)이론 및 용어정리공초점 레이저 주사 현미경은 고해상 화상을 얻는 데 쓰는 여러 기구이다.1957년 Hyperlink ... 8%EA%B2%BD" \o "현미경" 현미경과는 달리 대물 렌즈 뒤편에 바늘 구멍을 두어 시료의 한 점에서 출발한 Hyperlink "https://ko.wikipedia.org
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2020.03.28
  • AFM정의, 특징
    1. AFM이란?원자간력 현미경 (Atomic Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류 ... -Y-Z의 방향의 움직임이 관찰상이 되는 것이다. 원자나 고체의 표면을 관찰하는데 사용되는 가장 보편적인 원자 현미경이다. AFM은 탐칩(Tip)으로 시료표면을 스캐닝 하여 시료표면 ... 로 그 물체의 표면의 모양을 알아낸다고 생각하면 쉽게 이해할 수 있다.AFM은 일반적으로 두 가지 방법으로 구분하기도 한다. Non-contact Mode, Contact Mode
    리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.10.04
  • 표면 분석(AES/SAM)
    I. AES1. AES/SAM의 원리AES/SAM(Auger Electron Spectroscopy : 오제이 전자 현미경/Scanning Auger Microscopy : 주사 ... 형 오제이 전자 현미경)은 수 백 Angstrom 크기로 집속된 전자 빔을 재료의 표면에 입사시켜 방출되는 Auger 전자의 에너지를 측정하여 재료 표면을 구성하고 있는 원소 ... 으ct mode의 AFM에서 탐침이 시료와 접촉하고 있는 범위 내에서 캔틸레버를 일정한 진폭으로 진동 시키면 시료와의 접촉에 의해 탐침의 진폭과 위상이 변화한다. 시료가 물렁물렁한
    리포트 | 37페이지 | 1,500원 | 등록일 2017.09.22
  • Surface characterization by AFM 예비 실험보고서
    하고 제작하는 기능, 다양한 물리적 특성을 분석하는 기능을 지닌 종합적인 나노측정기술로 발전하고 있다.[그림.1] SPM장치의 개요? 원자간력 현미경(Atomic Force ... Microscope, AFM)주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. 이름대로, 실험시료와 탐침의 원자 사이에 작용하는 반데르발스 힘 ... 로 측정할 수 있다.2013년 현재 다른 주사 프로브 현미경과 같이 공간분해능은 탐침 끝의 두께(나노미터 크기)에 따라 달라지고, 원자 수준까지 볼 수 있다.AFM은 일반적으로 시료
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2016.04.15
  • 생활속 나노과학
    의 배열까지 관찰할 수 있다.? 시료 표면을 입체적으로 관찰할 수 있다.단점? 절연물은 관찰할 수 없다.? 탐침이 너무 가늘기 때문에 파손되기 쉽다.- 원자간력현미경(AFM ... 있다.이 때 원자간력힘을 이용하므로 이를 이용하여 원자를 떼어냈다 붙이는 등의 가공을 할 수 있다.(그림) AFM의 원리(그림) AFM tip원자간력현미경장점? 절연물도 관찰할 수 ... , Atomic Force Microscope)원자간력이란 원자끼리 끌어당기거나 밀어내는 힘을 말한다. 원자간력현미경은 전압이 아니라 탐침과 시료 표면의 원자간력을 이용하기 때문에 전기
    리포트 | 18페이지 | 2,000원 | 등록일 2013.05.21
  • 생명공학 응용·개발·장비 사례
    ; Scanning Tunneling Microscope)과 원자간력 현미경 (AFM; Atomic Force Microscope)을 칭한다. 이 두가지 이외에도 많은 종류가 존재한다. 다른종류 ... 프로브 현미경AFM 팁이나 광섬유 끝을 변형 시킨 프로브를 사용하여 주사(Scanning)하는 현미경이다. 이때 프로브는 연구하려는 물체의 표면과 상호작용을 함으로써, 표면 상 ... 의 예를 들면, MFM, EFM, LFM 등이 존재하며 종류에 따라 측정하는 힘이 다르다. 예를 들면, 원자간력 현미경은 탐침(tip)과 시료(sample)원자 간의 상호작용
    리포트 | 10페이지 | 2,000원 | 등록일 2014.07.02
  • 주사탐침 현미경 spm
    로는 대표적으로STM(Scanning Tunneling Microscope)주사 터널링 현미경 (원자 계열 중 처음등장)AFM(Atomic Force Microscope)원자력현미경 ... 을 수 있다.AFM(Atomic Force Microscope)STM의 가장 큰 결점은 전기적으로 부도체인 시료는 볼 수 없다는 것인데, 이를 해결하여 원자현미경을 한층 유용 ... 하게 만든 것이 AFM이다. 가장 보편적인 원자현미경으로 AFM에서는 텅스텐으로 만든 바늘 대신에 마이크로머시닝으로 제조된 캔틸레버(Cantilever)라고 불리는 작은 막대를 쓴다
    리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2013.03.18
  • 산화 공정 (Oxidation) 분석 [A+]
    )원자간력 현미경 (Atomic Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. 이름 ... 을 통해 확산할 수 있을 만큼 활동적이지 못하기 때문이다. 따라서 곧 반응은 멈추게 되고 이때 산화층의 두께는 25Å을 넘지 못한다.-Atomic Force Microscopy (AFM ... 에서 생체 실험자료를 자연에 가까운 상태로 측정할 수 있다. 현재는, 다른 주사 프로브 현미경과 같이 공간분해능은 탐침 끝의 두께(나노미터 크기)에 따라 달라지고, 원자 수준
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.11.23
  • 현미경의 종류와 쓰임새
    성, 절연성 등과 관계없이 시료표면의 구조를 관찰 할 수 있다. 주사형 현미경의 구조(원리)AFM은 시료와 탐침간에 움직이는 원자간력 (인력 또는 척력)을 검출하여 검출된 신호가 일정 ... 간에 흐르는 전류 (Tunnel 전류)를 검출하여 표면 구조를 관찰한다. STM의 발명후에 시료, 탐침간에 움직이는 원자간력을 검출하여 표면형상을 관찰하는 원자간력 현미경이 발명 ... 해지도록 양쪽의 거리를 제어하면서 시료표면을 주사하여 표면의 3차원형상을 측정하는 현미경이다. 원자간력 검출기에는 끝부분에 탐침이 붙어있는 칸틸레버(cantilever)라고 불리우는한다.
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.09.10
  • 현미경의 역사와 종류, 특징
    하여 주사형 Probe현미경 (SPM)이라고 한다.AFM은 그중에서 가장 널리 보급되어져 있는 SPM이며 AFM을 기반으로한 새로운 형태의 SPM이 지속적으로 연구, 개발되어 실용 ... 는 원자간력 (인력 또는 척력)을 검출하여 검출된 신호가 일정해지도록 양쪽의 거리를 제어하면서 시료표면을 주사하여 표면의 3차원형상을 측정하는 현미경이다.원자간력 검출기에는 끝부분 ... Ⅰ 현미경의 발달사현미경은 인류 탄생이래 비행기, 전기, TV 발명등과 더불어 인류의 발전에 한 획을 그은 발명품이다.현미경에 관한 기록은 AD 1000년경 그리스와 로마시대
    리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.10.27
  • AFM
    가 반드시 전기전도성이 되어야 한다는 것이다.원자간력 현미경(atomic forcemicroscopy, AFM)AFM은 전도성 표면을 요구하지 않는다. 탐침은 단순히 표면으로부터 인력 ... ▣ 실 험 제 목 : Atomic Force Microscopy▣ 실 험 일 자 : 2009년 5월 8일 금요일▣ 실 험 목 적 : 원자현미경의 한 종류인 AFM의 원리를 이해 ... 년대에 발명된 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)을 포함하는 원자현미경(Scanning Probe
    리포트 | 24페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.05.29 | 수정일 2016.10.19
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2025년 09월 04일 목요일
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