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유기소재실험2_SEM2025.05.151. SEM(주사전자현미경) 주사전자현미경(SEM)은 시료 표면을 전자선으로 주사하여 입체구조를 직접 관찰할 수 있는 전자현미경입니다. 시료 내의 원소에서 발생하는 특성 X선을 분석하는 X선 마이크로 애널나이저와 병용하여 시료 내의 특정 원소의 검출이나 분포를 해석하는 데 널리 사용됩니다. SEM은 주로 시료 표면의 정보를 얻을 수 있고 시료의 두께, 크기 및 준비에 크게 제한을 받지 않습니다. 또한 광학현미경에 비해 집점심도가 2배 이상 깊고 광범위하게 집점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는 것이 가능합니다. 2. SEM의 원리...2025.05.15
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재료의 전기화학적 성질, 미세구조 및 열적 특성 분석2025.05.161. 광학 현미경을 통한 미세조직 관찰 및 분석 광학 현미경은 볼록렌즈를 통해 시료의 상을 확대하여 관찰할 수 있는 장치입니다. polishing과 etching 과정을 거쳐 시료의 미세구조를 관찰할 수 있습니다. 이번 실험에서는 Al-Ni 합금의 미세구조를 200배율로 관찰하였지만, 배율이 낮아 lamella 구조를 관찰하기 어려웠고 초점 및 대비가 좋지 않았습니다. 2. 주사 전자 현미경을 통한 미세조직 관찰 및 분석 주사 전자 현미경(SEM)은 진공 중에서 시료 표면을 전자선으로 주사하여 미세조직과 형상을 관찰할 수 있는 장치...2025.05.16
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