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에러 검출 기법 4가지(패리티비트, 블록합, CRC, 체크섬)의 비교 및 에러 검출코드 생성2025.05.021. 에러 검출 기법 비교 에러 검출 기법에는 패리티 검사, 블록 합 검사, 순환 중복 검사(CRC), 체크섬 검사(검사합 검사) 등 4가지가 있다. 각 기법의 장단점을 비교하면, 패리티 검사는 간단하지만 오류 검출 능력이 약하고, 블록 합 검사는 1비트 오류나 짝수 개의 오류 검출이 가능하지만 복잡하다. CRC는 데이터 신뢰도가 높고 오버헤드가 작으며 다양한 오류 검출에 뛰어나지만 오류 위치 정정은 할 수 없다. 체크섬 검사는 구현이 쉽고 빠르지만 단일비트 오류 검출에 약하다. 2. 에러 검출 코드 생성 주어진 데이터 비트열 10...2025.05.02
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전기및디지털회로실험 실험 M1-2. I/O 기초와 시리얼 통신 예비보고서2025.05.101. 디지털 I/O 디지털 신호는 High(1) 또는 Low(0)라는 두 가지 값으로 나뉜다. 또한 이 값은 입력 혹은 출력의 값으로 쓰인다. 아두이노의 디지털 입력과 출력은 센서, 엑츄에이터 및 기타 집적회로를 연결할 수 있게 해준다. 2. 아날로그 I/O 아날로그 신호는 디지털 신호와 달리 어떤 값도 가질 수 있는 신호다. 아날로그 신호를 측정하기 위해 아두이노에 내장된 ADC(Analog Digital Converter)를 사용한다. ADC는 아날로그 신호를 디지털 신호로 바꾸어 주는 역할을 한다. 3. 시리얼 통신 시리얼 통...2025.05.10