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Ellipsometry를 이용한 편광 측정 실험2025.11.131. Ellipsometry Ellipsometry는 선형 편광된 빛이 시편에서 반사될 때 편광 상태가 타원 편광 형태로 변하는 현상을 이용하여 시편의 광특성과 구조를 측정하는 기술이다. 편광기를 통해 45도의 선형 편광 빛을 생성하고, 이 빛에는 s-파와 p-파가 동시에 존재한다. 시편으로부터의 반사광을 분석하여 물질의 광학적 특성을 정량적으로 측정할 수 있다. 2. Brewster 각 Brewster 각은 특정 입사각에서 p-파에 대한 반사율이 0이 되는 현상과 관련된 각도이다. 본 실험에서는 입사각을 70도로 설정하여 Brew...2025.11.13
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[A+ 보장] 일립소메트리의 실리콘 시편의 특성 분석 및 비교2025.05.111. 실험 결과 실험 결과 값은 2번 편광기의 각도를 10도씩 돌려서 측정한 출력 전압 값을 각도에 대비한 값으로 구하면 대부분 땅콩 형태의 모양이 나오게 된다. 출력 전압이 의미하는 것은 측정기기에 얼마나 많은 양의 빛이 들어갔는지를 의미하게 되고, 출력값이 원점에서 멀어질수록 빛을 많이 받았음을 알 수 있고 반대로 원점에 가까울수록 적은 량의 빛을 받았음을 알 수 있다. 가장 적은 양의 빛을 받은 부분은 p파가 가장 많이 투과된 지점으로 해석할 수 있다. 시편B에서는 출력 전압 값이 0에 가까운 부분이 보임을 확인할 수 있고 이...2025.05.11
