1. Ellipsometry Ellipsometry는 선형 편광된 빛이 시편에서 반사될 때 편광 상태가 타원 편광 형태로 변하는 현상을 이용하여 시편의 광특성과 구조를 측정하는 기술이다. 편광기를 통해 45도의 선형 편광 빛을 생성하고, 이 빛에는 s-파와 p-파가 동시에 존재한다. 시편으로부터의 반사광을 분석하여 물질의 광학적 특성을 정량적으로 측정할 수 있다. 2. Brewster 각 Brewster 각은 특정 입사각에서 p-파에 대한 반사율이 0이 되는 현상과 관련된 각도이다. 본 실험에서는 입사각을 70도로 설정하여 Brew...